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X-LED检测事业部


事业部简介

  X-LED检测事业部主要研发和生产数字全息显微镜,以及提供各种光学系统解决方案等。


  数字全息显微镜主要用于微纳尺度样品的三维形貌测量。利用光的干涉原理,将被测信息以光学强度条纹的形式表征出来,通过对干涉条纹的记录和分析得到被测物体的相位。相移法通过一定的时间调制,在相同频率的两束光波之间引入变化的光程差,利用CCD采集三幅以上的干涉图,通过算法运算就可以获得被测对象的相位信息,具有测量精度高、测量速度快、对条纹的对比度和均匀性要求低等测量优点。


  数字全息显微镜可广泛应用在生命科学领域和材料科学领域,在生命科学中,为活体细胞从培养至融合全过程观测提供精确的量化相位测量,整个观测过程中无需任何生物标记,对细胞也无任何光学损伤。数字全息显微镜也是测量微光学元件、透明器件、量子点薄膜形貌的理想工具。



主要产品

数字全息显微镜

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